- Specificky vyvinuto pro použití při čištění pod hladinou
- Velmi dobře čistí i kapilární prostory a součátky s nízkým profilem
- Snadno oplachovatelné bez zanechávání zbytků na povrchu a zajišťuje nízkou iontovou kontaminaci čištěných DPS
- Bez bodu vzplanutí – není tedy potřeba prostředí zabezpečené vůči výbuchu
- Zajišťuje dobré vyplnění pod součástky díky úplnému odstranění všech zbytků tavidlových gelů z FIip Chip a CMOS součástek
- Zlepšuje rozlišení obrazu díky odstranění částic z CMOS obrazových senzorů
AplikaceČištění DPS/ odstraňování tavidel; součástky s nízkým profilem
KontaminaceZbytky tavidla
ProcesUltrazvukové, proudové a odstředivé čištění pod hladinou
TechnologieMPC, Na bázi vody