Phoenix V|tome|x S Neo
CT systém pro vysoce přesnou 2D RTG kontrolu, 3D mikroCT, volitelně nanoCT® a rozměrovou metrologii. Kombinuje vysoké rozlišení, možnost Dual|tube konfigurace a kompaktní půdorys pouze 3,25 m², díky čemuž je vhodný pro laboratoře, vývoj i kontrolu kvality ve výrobě.
Phoenix V|tome|x S Neo od Waygate Technologies je univerzální průmyslový CT systém určený pro nedestruktivní kontrolu, analýzu vnitřních struktur, detekci výrobních vad a přesnou 3D metrologii. Umožňuje kombinovat klasickou 2D rentgenovou inspekci s 3D počítačovou tomografií a podle konfigurace také s vysoce rozlišovací nanoCT® analýzou.
Základem systému je 240 kV / 320 W mikrofocus RTG zdroj, který nabízí vysokou penetrační schopnost při zachování velmi dobrého prostorového rozlišení. V konfiguraci Dual|tube lze systém doplnit o 180 kV / 20 W nanofocus zdroj s Diamond|window, který umožňuje detekovat detaily až do 0,2 µm. Mezi mikrofocus a nanofocus zdrojem lze přepínat bez nutnosti nové kalibrace.
Pro oblast elektroniky je V|tome|x S Neo vhodný například pro analýzu pájených spojů, BGA a dalších skrytých spojů, voidů a porozity, die-attach spojů, wire bondingů, polovodičových součástek nebo kompletních elektronických sestav. CT kontrola umožňuje analyzovat vnitřní struktury, které nejsou při standardní 2D RTG inspekci jednoznačně vyhodnotitelné.
Zařízení lze osadit několika typy digitálních detektorů podle požadavků na rychlost, rozlišení a velikost kontrolovaného objektu. K dispozici je standardní DXR S100 Pro, rychlý Dynamic 41|200 a vysoce rozlišovací Dynamic 41|100 s aktivní plochou 400 × 400 mm a rozlišením 16 MP.
Technologie High|Flux target umožňuje zvýšit tok rentgenového záření při zachování malého ohniska, což přispívá ke zkrácení CT skenovacích časů a zvýšení průchodnosti kontroly. Pro zpracování dat je systém vybaven softwarem Datos|x 3, který zajišťuje akvizici, CT rekonstrukci a automatizaci skenovacích procesů. Podle výrobce nabízí až o 40 % rychlejší rekonstrukci oproti předchozím generacím softwaru.
Volitelná Metrology|edition rozšiřuje systém o přesné rozměrové měření na základě CT dat. Umožňuje například porovnávání skutečného dílu s CAD modelem, analýzu tloušťky stěn, měření vnitřních struktur nebo reverzní inženýrství.