Phoenix V|tome|x M Neo

Phoenix V|tome|x M Neo je vysoce flexibilní průmyslový mikro/nano CT systém určený pro přesnou 3D kontrolu, metrologii a nedestruktivní analýzu dílů až do průměru 500 mm a hmotnosti 75 kg.

Phoenix V|tome|x M Neo od Waygate Technologies je univerzální systém průmyslové počítačové tomografie určený pro nedestruktivní 3D kontrolu, rozměrovou metrologii, analýzu vnitřních struktur a vyhodnocování výrobních vad. Uplatnění nachází ve vývojových a metrologických laboratořích i v automatizované kontrole kvality ve výrobním prostředí.

Systém využívá výkonný 300 kV / 500 W mikrofocus rentgenový zdroj a může být doplněn o 180 kV / 20 W nanofocus zdroj. Koncepce Dual|tube tak umožňuje na jednom zařízení kombinovat kontrolu rozměrnějších a více absorbujících součástí s analýzou velmi jemných struktur vyžadujících maximální prostorové rozlišení. Přepínání mezi zdroji je řešeno automatizovaně.

Pro elektronický průmysl lze systém využít například při detailní CT analýze elektronických komponent a sestav, vývojové analýze nebo kontrole výrobních vad. Součástí softwarového vybavení je také X|act NDT s technologií zpracování obrazu Flash!, přičemž varianta Flash! Electronics je optimalizována přímo pro rentgenovou kontrolu elektroniky.

Technologie Scatter|correct automaticky omezuje artefakty způsobené rozptýleným zářením a umožňuje dosáhnout vysoké kvality CT dat také u materiálově nebo geometricky náročných vzorků. Pro rychlejší snímání jsou k dispozici detektory řady Dynamic 41 a technologie High-flux|target, která umožňuje zvýšit výkon při zachování malého ohniska, a tím zkrátit dobu CT skenu nebo zvýšit dosažitelné rozlišení.

Přesný šestiosý manipulátor na žulové základně, variabilní vzdálenost zdroj–detektor a technologie Offset|CT poskytují vysokou flexibilitu při kontrole malých detailů i rozměrnějších dílů. Akvizici, rekonstrukci CT dat a automatizované pracovní postupy zajišťuje software Phoenix Datos|x.